Du 15 au 19 novembre 2010. L'objectif du colloque est de favoriser l'échange des connaissances scientifiques et techniques
entre la recherche et l'industrie afin de faciliter les applications industrielles dans tous les
domaines où les contrôles et les mesures optiques sont ou peuvent être concernés, en particulier pour les contrôles non destructifs, les mesures de déplacements, de déformation, de contraintes, de formes macroscopiques (numérisation 3D) ou microscopiques (état de surfaces, rugosité)…
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